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NTC热敏电阻高温存贮可靠性验证
来源:本站  更新时间:2018-09-07 20:55:11  查看次数:

     

□ 原材料□芯片□半成品■成品
试验项目:NTC热敏电阻高温存贮
试验目的:验证产品可靠性
客户名称:宁德新时代
试验编号:RM-JS2018070102
产品名称:FWQBX-10K3435T500
客户料号:C0920-3950-OAL
样品数量:5PCS
试验条件:105±3℃,时间1000hr
判定条件:∣△R25/ R25∣≤3%,∣△B/ B∣≤3% ,外观无损伤
设备名称:高温烤箱、高精密度油槽
试验时间:2015.7.1~2015.8.25
 
      NTC热敏电阻高温存贮可靠性试验数据
No. 初值 存贮后(1000 hr) 变化率(±3%) 判定
R25     (KΩ) R85     (KΩ) B25/85 R25     (KΩ) R85     (KΩ) B25/85 △R25(%) △B25/85(%)
1-1 9.972 1.453 3427.98 10.000 1.452 3434.20 0.28% 0.18% 合格
1-2 9.981 1.456 3425.92 10.008 1.455 3431.95 0.27% 0.18% 合格
1-3 10.282 1.499 3427.00 10.308 1.496 3435.06 0.25% 0.24% 合格
1-4 10.011 1.460 3426.38 10.039 1.459 3432.57 0.28% 0.18% 合格
1-5 10.012 1.459 3427.77 10.037 1.456 3435.88 0.25% 0.24% 合格
                   
                   
                   
                   
                   
                   
                   
                   
                   
                   
                   
                   
                   
                   
                   
 
 
试验结论 ■合  格 说明:1、经测试,MF52ENTC热敏电阻样品试验结果合格。
□不合格
 
 

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